LSI故障解析技術

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  • 日科技連出版社
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  • Amazon.co.jp ・本 (194ページ)
  • / ISBN・EAN: 9784817194145

著者プロフィール

二川清
1949年大阪市生まれ。
大阪大学基礎工学部物性物理工学科卒業、同大学院修士課程修了。工学博士。
NEC、NECエレクトロニクス、大阪大学などで信頼性の実務と研究開発に従事。
現在、デバイス評価技術研究所 代表。

「2020年 『信頼性七つ道具 応用編』 で使われていた紹介文から引用しています。」

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