機械計測

著者 : 永田良

• 朝倉書店 (1979年11月1日発売)

著者プロフィール

永田　良（ナガタ リョウ）
早稲田大学教授
1950年生まれ。早稲田大学大学院経済学研究科博士後期課程単位満了退学。早稲田大学政治経済学部助手等を経て、現在、早稲田大学政治経済学術院教授。博士（経済学）。

「2019年 『標準　ミクロ経済学（第２版）』 で使われていた紹介文から引用しています。」