信頼性モデルの統計解析 (応用統計数学シリーズ)

著者 : 真壁肇 宮村鉄夫 鈴木和幸

• 共立出版 (1989年10月20日発売)

作品紹介・あらすじ

技術の高度化・複雑化に伴い、ますます重要となってきたその基礎理論から応用までを平易に解説。

著者プロフィール

真壁　肇
1928年　東京に生まれる
1951年　東京工業大学卒業（応用数学コース）
現　 在　東京工業大学　名誉教授　工学博士

「2018年 『品質管理と品質保証，信頼性の基礎』 で使われていた紹介文から引用しています。」