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岩根眼藏
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半導体部品の信頼性―高信頼化の歴史とフィールドデータ
半導体部品の信頼性―高信頼化の歴史とフィールドデータ
著者 :
岩根眼藏
植木武美
小川清
久慈憲夫
嶋屋正一
中野好典
平岡一則
福田光男
水沢武
山口力
制作 : 荒井 英輔 塩野 登
丸善プラネット
(2013年8月30日発売)
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Amazon.co.jp ・本 (344ページ)
/ ISBN・EAN:
9784863451728
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